每毫米30線對(duì)測(cè)試卡

產(chǎn)品編號(hào)：20211202-08

銷售廠家：固安縣雙玉儀器有限公司

線和間距/線寬：3至50 um，16英寸16套左8x8mm Si基座2x2mm的L&S布局上圖為大小為5μm L&S的圖像。

工作原理:當(dāng)射線穿過(guò)被照體后,入射到   熒光層,產(chǎn)生與入射射線相對(duì)應(yīng)的熒光(可見(jiàn)光)。光纖將這些可見(jiàn)光耦合到GMOS芯片上。再由CMOS芯片將光信號(hào)轉(zhuǎn)換成電信號(hào),并將這些電信號(hào)儲(chǔ)存起來(lái),從而捕獲到所需要的圈像信息。圖像信息經(jīng)放大、讀出,送到圖像處理系統(tǒng)進(jìn)行處理。

線對(duì)卡的使用以及應(yīng)用范圍：

一，常規(guī)的無(wú)損檢測(cè)，也可以用于其他的安檢設(shè)備的圖像成像檢測(cè)

二，用于工業(yè)ct的圖像成像功能檢測(cè)

三，還可以用于醫(yī)用ct、醫(yī)用的x射線的相關(guān)設(shè)備的圖像質(zhì)量檢測(cè)。

四，用分辨率測(cè)試卡測(cè)定x射線成像系統(tǒng)的可視分辨率，成像系統(tǒng)的分辨率，測(cè)試成像系統(tǒng)的調(diào)制傳遞函數(shù)。

測(cè)試卡封裝在一個(gè)防護(hù)盒中

盒子的外形尺寸（W×D×T）：40×30×15mm

芯片尺寸（W×D×T）：5×5×0.06mm

圖案布局：L型

線/空間尺寸： 16種規(guī)格圖案

0.4μm,0.5μm,0.6μm,0.7μm,0.8μm,0.9μm,1.0μm,1.5μm,2.0μm,3.0μm,4.0μm,5.0μm,6.0μm,7.0,10.0μm,15.0μm

本公司經(jīng)營(yíng)線對(duì)卡業(yè)務(wù)和其他相關(guān)產(chǎn)品的業(yè)務(wù)，經(jīng)營(yíng)有空間分辨率測(cè)試卡，射線線對(duì)卡，高分辨率測(cè)試卡，20線對(duì)測(cè)試卡等相關(guān)產(chǎn)品，更多產(chǎn)品的詳細(xì)信息請(qǐng)咨詢固安縣雙玉儀器有限公司，將會(huì)給您更加滿意的解答，期待您的到來(lái)。

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