X射線探傷機分辨力測試卡
產品編號：20220310.08
產品銷售廠家：固安縣雙玉儀器有限公司
X線的特性： X線是一種波長很短的電磁波。波長范圍為0.0006～50nm。目前X線診斷常用的X線波長范圍為0.008～0.031nm(相當于40～150kV時)。在電磁輻射譜中，居γ射線與紫外線之間，比可見光的波長要短得多，肉眼看不見。
線對卡的使用和維護：
線對卡是對X射線的成像進行分辨力進行測試的裝置，該裝置通過其本身帶有的不同的線對對X射線的成像的圖像進行檢測，把線對卡至于X射線影像設備之下進行曝光成像，然后觀察圖像能夠顯示出個線對的數量作為衡量射線設備的分辨力能力時候滿足日常檢測的分辨率的需要。
對比度試驗
選擇X線放大攝影用X線管的焦點尺寸≤1.5mm,焦距≥1.5 m,選擇合適的攝影條件使X線膠片的鉛箔部分的密度值小于0.3,沒有鉛箔部分的密度為1.0。
檢驗規則
規定了組批規則和型式檢驗規則及出廠檢驗規則。
分辨率測試卡的形式檢驗應由獨立實驗室進行。
本公司經營線對卡業務和其他相關產品的業務，經營有空間分辨率測試卡，射線線對卡，高分辨率測試卡，20線對測試卡等相關產品，更多產品的詳細信息請咨詢固安縣雙玉儀器有限公司，將會給您更加滿意的解答，期待您的到來。
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X射線探傷機分辨力測試卡
X射線探傷機分辨力測試卡
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X線的特性： X線是一種波長很短的電磁波。波長范圍為0.0006～50nm。目前X線診斷常用的X線波長范圍為0.008～0.031nm(相當于40～150kV時)。在電磁輻射譜中，居γ射線與紫外線之間，比可見光的波長要短得多，肉眼看不見。
線對卡的使用和維護：
線對卡是對X射線的成像進行分辨力進行測試的裝置，該裝置通過其本身帶有的不同的線對對X射線的成像的圖像進行檢測，把線對卡至于X射線影像設備之下進行曝光成像，然后觀察圖像能夠顯示出個線對的數量作為衡量射線設備的分辨力能力時候滿足日常檢測的分辨率的需要。
對比度試驗
選擇X線放大攝影用X線管的焦點尺寸≤1.5mm,焦距≥1.5 m,選擇合適的攝影條件使X線膠片的鉛箔部分的密度值小于0.3,沒有鉛箔部分的密度為1.0。
檢驗規則
規定了組批規則和型式檢驗規則及出廠檢驗規則。
分辨率測試卡的形式檢驗應由獨立實驗室進行。
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X射線探傷機分辨力測試卡
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X線的特性： X線是一種波長很短的電磁波。波長范圍為0.0006～50nm。目前X線診斷常用的X線波長范圍為0.008～0.031nm(相當于40～150kV時)。在電磁輻射譜中，居γ射線與紫外線之間，比可見光的波長要短得多，肉眼看不見。
線對卡的使用和維護：
線對卡是對X射線的成像進行分辨力進行測試的裝置，該裝置通過其本身帶有的不同的線對對X射線的成像的圖像進行檢測，把線對卡至于X射線影像設備之下進行曝光成像，然后觀察圖像能夠顯示出個線對的數量作為衡量射線設備的分辨力能力時候滿足日常檢測的分辨率的需要。
對比度試驗
選擇X線放大攝影用X線管的焦點尺寸≤1.5mm,焦距≥1.5 m,選擇合適的攝影條件使X線膠片的鉛箔部分的密度值小于0.3,沒有鉛箔部分的密度為1.0。
檢驗規則
規定了組批規則和型式檢驗規則及出廠檢驗規則。
分辨率測試卡的形式檢驗應由獨立實驗室進行。
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