X射線質(zhì)控衛(wèi)生測(cè)試工具

本公司為實(shí)體廠家，定制亞克力材質(zhì)實(shí)驗(yàn)裝置，性能檢測(cè)模體等實(shí)驗(yàn)裝置，如有定制需求請(qǐng)咨詢：廊坊玉雙儀器設(shè)備有限公司，產(chǎn)品銷售編號(hào)：20230530-03。

線對(duì)卡產(chǎn)品狀態(tài)：現(xiàn)貨 線對(duì)卡型號(hào)：type38型 81型 39型18型等多種型號(hào)和規(guī)格歡迎廣大新老客戶咨詢訂購(gòu)產(chǎn)品。產(chǎn)品采用塑料盒包裝 防潮 防震能夠抵抗運(yùn)輸途中的破損風(fēng)險(xiǎn)。

線對(duì)卡是對(duì)X射線的成像進(jìn)行分辨力進(jìn)行測(cè)試的裝置，該裝置通過(guò)其本身帶有的不同的線對(duì)對(duì)X射線的成像的圖像進(jìn)行檢測(cè)，把線對(duì)卡至于X射線影像設(shè)備之下進(jìn)行曝光成像，然后觀察圖像能夠顯示出多少個(gè)線對(duì)的數(shù)量作為衡量射線設(shè)備的分辨力能力時(shí)候滿足日常檢測(cè)的分辨率的需要。

分辨率測(cè)試卡是一種用于設(shè)置和測(cè)試微焦 X 射線系統(tǒng)的光刻生產(chǎn)的測(cè)試模式。它支持 0.1 μm 和 10 μm 之間的分辨率，對(duì)應(yīng)于 0.2 μm 和 20 μm 之間的焦斑尺寸。不同距離的線束應(yīng)用于硅載體JIMA RT RC-04分辨率測(cè)試卡特點(diǎn)：測(cè)試卡封裝在一個(gè)防護(hù)盒中盒子的外形尺寸（W×D×T）：40×30×5mm芯片尺寸（W×D×T）：5×5×0.015mm圖案布局：T型線/空間尺寸：32種規(guī)格圖

本公司經(jīng)營(yíng)線對(duì)卡和射線檢測(cè)裝置、亞克力試驗(yàn)箱等其他相關(guān)產(chǎn)品的業(yè)務(wù)，經(jīng)營(yíng)有空間分辨率測(cè)試卡，射線線對(duì)卡，高分辨率測(cè)試卡，20線對(duì)測(cè)試卡等相關(guān)產(chǎn)品，更多產(chǎn)品的詳細(xì)信息請(qǐng)咨詢廊坊玉雙儀器設(shè)備有限公司。